关键词 |
ZEISS扫描显微镜,卢湾扫描显微镜,蔡司扫描显微镜,卡尔蔡司扫描显微镜 |
面向地区 |
全国 |
低成本与便携化
桌面式SEM：小型化设计降低设备成本，推动工业现场检测。
开源AFM系统：基于3D打印和开源软件，使科研机构更易获取技术资源。
多模态联用技术
SEM-EDS联用：结合能谱仪（EDS）实现元素成分与形貌同步分析。
AFM-Raman联用：在纳米尺度同时获取化学键振动信息与形貌数据。
材料科学
纳米材料表征：观察碳纳米管、石墨烯的原子排布及缺陷。
表面形貌分析：测量薄膜粗糙度、涂层均匀性。
失效分析：SEM可清晰显示金属疲劳断裂的韧窝形貌。
