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我们的综合解决方案采用了专属的吸收衬度增强探测器,尽可能地吸收低能量光子,同时尽可能地少吸收降低图像衬度的高能量光子,从而为您提供拥有出色衬度的成像结果。此外,可调节的传播相位衬度技术通过探测经过材料后产生折射的X 射线光子信号,可显示出那些吸收衬度很低甚至没有吸收衬度的特征。
界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。
重建工具箱是一个创新的平台,您可以在此平台上连续使用蔡司重建技术,用来丰富您的研究,并提高蔡司Xradia 三维XRM 的。
蔡司DeepRecon
率先实现基于深度学习的商用重建技术,使您在不影响XRM RaaD 成像能力的情况下,能够实现通量多达10 倍的提高。也保持相同的投影数并进一步改善图像质量。DeepRecon 可特地从XRM 生成的大数据中获取隐藏的机会,并提供由人工智能驱动的高速或显著的图像质量改进。
蔡司OptiRecon
以快速、的算法为基础,在您的电脑桌面上操作即可进行迭代重建,使您的扫描时间提升至高达4 倍的速度,或在同样的通量下改善图像质量。OptiRecon 是一个经济的解决方案,可以为广泛的样品类别提供出色的内部断层扫描成像质量或快速的成像速度。
蔡司客户导向:持续改进和可持续升级
保障您的投资:蔡司Xradia Versa 提供出色的可扩展性。蔡司提供持续的支持,以确保您的系统不会落伍。大多数蔡司X 射线显微镜的设计可随未来的创新和发展进行升级和扩展,可持续保障您的投资。这确保了您的显微镜功能随着技术进步而发展。这是三维X 射线成像行业产品差异化关键因素之一。