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蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均与“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan） 控制软件无缝整合在一起，提供一个的工作流程境，让您能够轻松定位到感兴趣区域和选择扫描参数。对那些使用者经验水平各不相同的中心实验室用户来说，这款简洁易用的系统可谓是理想的选择。
界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性，使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan） 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性，特别适用于原位和4D 研究，让您未来的科研工作更、更有序。
蔡司提供两种形式的DeepRecon 技术——1) DeepRecon Pro 和2) DeepRecon Custom——两者
都利用人工智能以出色的速度提供令人惊艳的图像质量。
蔡司XRM 以其特的性能让的原位实验得以实现。这些研究要求样品远离X 射线源，以安放各种类型的原位装置。在传统的微米CT 系统中这一要求大大限制了样品能够达到的分辨率。蔡司X 射线显微镜采用特的两级放大架构和大工作距离高分辨率（RaaD）技术，确保高分辨率原位成像
处理蔡司显微镜所采集的数据
• 读写各种不同格式，包括.txm 和.czi
• 自动处理和应用宏，以实现自动化工作
流程
• 由蔡司使用
通过可选模块扩展软件
• 用于分割的深度学习
• 实现的指标的骨分析
从蔡司Xradia Context microCT 到蔡司Xradia 515/520 Versa，直到蔡司Xradia 610/620 Versa，您可以在应用现场将系统转换为全新的X 射线显微镜产品。除了在您的使用现场进行仪器转换外，新的模块还在不断开发中，这些模块不断提供新的功能来让您的仪器功能更强大，如原位样品环境、特的成像模式和用于提高工作效率的模块。此外，定期发布的软件所包括的新功能也适用于已有设备，从而增强和扩展您的研究能力。
北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料研究分析设备的研发和应用。的团队，专精的服务，提供理想的解决方案。
我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理，为高校、企业科研工作者提供的分析解决方案。以技能为导向，用科技来解决用户在科研中遇到的难题。的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流，打消顾虑，彼此协作，为我国的科研领域谱写新篇章。
北京瑞科中仪科技有限公司长期代理销售供应多种分子材料的研究分析设备，其中包括但不限于扫描电子显微镜、感应耦合等离子体化学气相沉积系统、离子束刻蚀机、等离子清洗机、物理气相沉积系统以及各品牌的光学显微镜以及实验室设备仪器。
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北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料分析，助力科研机构实现分析。通过对行业的深入剖析，瑞科中仪科技有限公司工作人员已掌握和具备半导体材料分析研究的基本素质，可以根据各领域用户的实际需求为用户提供的解决方案。
