潍坊卡尔蔡司扫描显微镜

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配合不同探测器的选择,使Sigma 广泛地适用于您的应用:无论是正在开发的新材料、用于质量检查的颗粒还是生物或地质标本,该电镜可助您研究各种样品。在极端条件下,利用可变压力(VP)成像,借助NanoVPlite,即使在低电压下,也能在非导体上获得出色的图像和分析结果。

蔡司解决方案在增材制造领域的应用范围覆盖粉末和材料分析,所使用的设备包括光学显微镜、扫描电镜、X射线技术。
使用光学显微镜来测试金属粉末的粒径分布
使用SEM扫描电镜对3D打印金属粉末的球形度和实心性进行分析
使用CT对粉末颗粒的宽高比和粒径进行分析
对于内部缺陷,蔡司的解决方案也能轻松检测,比如微裂纹、分层、疲劳裂纹、盈利、孔隙率、粉末残留物和气孔等。

电子经过一系列电磁透镜成束后,打到样品上与样品相互作用,会产生二次电子、背散射电子、俄歇电子以及X射线等一系列信号。所以需要不同的探测器譬如二次电子探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的信息。虽然X射线信号不能用于成象,但习惯上,仍然将X射线分析系统划分到成象系统中。
有些探测器造价昂贵,比如Robinsons式背散射电子探测器,这时,可以使用二次电子探测器代替,但需要设定一个偏压电场以筛除二次电子。

北京瑞科中仪科技有限公司为你提供的“潍坊卡尔蔡司扫描显微镜”详细介绍
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