来源:北京瑞科中仪科技有限公司 时间:2025-03-15 22:14:35 [举报]
X 射线显微镜主要有两种成像模式:吸收对比成像和相位对比成像。吸收对比成像基于样品对 X 射线的吸收差异来形成图像,适用于对元素组成和密度分布有显著差异的样品进行成像。相位对比成像则利用 X 射线在穿过样品时产生的相位变化来成像,对于轻元素和低吸收样品具有更高的灵敏度和分辨率。
发展历程** X 射线显微镜的发展可以追溯到 20 世纪初。早期的 X 射线显微镜受到技术限制,分辨率较低,应用范围有限。随着 X 射线源、光学元件和探测器等技术的不断进步,X 射线显微镜的性能得到了显著提升。
X射线显微镜:无损检测 在成像过程中,样品通常不会受到破坏,这对于珍贵或无法重复制备的样品尤为重要。
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