来源:北京瑞科中仪科技有限公司 时间:2025-01-23 11:57:02 [举报]
大部分的背 散射电子能够穿过 Inlens SE 探测器,并被 EsB 探测器收集。此外, Inlens EsB 探测器 还可有选择地收集不同能量的背散射电子。 如果出射角大于 15 度, 则 BSE 无法进入镜 筒,但会被 AsB (角度选择背散射) 或可 抽插式 aBSD 探测器探测到。aBSD 探测器 能够提供样品的成分衬度、形貌和 3D 表面 信息。样品室背散射电子探测器( BSD )和 扫描透射电子探测器可以在低加速电压下 拥有更率,且能实现超速成像。
在工业质量、失效分析或研究环境中,由于扫描电子显微镜 可提供高分辨率成像和高空间分辨率元素化学信息,所以它
是金相学和失效分析应用的理想之选。
专为日常检测和分析应用而设计,蔡司 EVO 拥有的操作 设计理念,无论是经验丰富的显微技术人员还是不具备扫描 显微镜知识的工程师,均可轻松上手。它能够提供出色 的数据,特别适合于后续检测中无法涂覆导电层的非
导电零部件。
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