Dragonfly Pro:可视化和定量分析的强
大工具Dragonfly Pro 是Object Research SystemORS)公司研发的一款3D 可视化与分析软件,蔡司使用该软件处理扫描电子显微镜、双束离子束电子显微镜和X射线显微镜的数据。Dragonfly Pro 运用可视化技术和的立体渲染,能够高清地探索集的细节信息和特性。可以在同一工作站内记录多种数据,并借助扩展的图像处理功能轻松操作2D 和3D 数据。
ORS 的Dragonfly Pro 是一款可进行自定义配置的软件包。您可以量身定制打造适合您工作流的工具,选择插件来控制图像对齐、映射差异和自定义外观。Dragonfly Pro还支持常规和非结构化表面网格,并包含编辑工具,可从网格创建感兴趣的区域,反之亦然。通过即插即用型开发工具包(PDK),您可以利用Dragonfly Pro 的核心技术快速建立的工作流程。
跨领域融合创新
与扫描探针技术结合:实现场发射-原子力联用成像
低温场发射显微镜:4K环境下研究量子限域效应
太空应用:ESA开发微型场发射显微镜用于空间站材料失效分析
催化机理研究
在Pt-Rh合金催化剂表面,FEM观察到CO氧化反应中活性位点的动态演变,证实了台阶位点的特殊催化活性。
表面吸附动力学研究
通过实时观测吸附原子在W(110)表面的迁移过程,测得Au原子的扩散激活能为0.8 eV,与理论计算误差<5%。实验中观察到台阶边缘对吸附原子的钉扎效应。
技术演进
1950年代:引入场离子显微镜(FIM),利用He+离子成像实现原子级分辨率
1980年代:结合质谱技术发展原子探针层析(APT)
21世纪:集成原位加热/冷却系统(温度范围4-1500 K)
成像原理
电子从针尖表面不同晶面发射时,由于功函数差异导致发射电流变化。这些电子经加速后轰击荧光屏,形成与表面原子排列对应的明暗图像。例如,钨(110)晶面因功函数较低呈现亮斑,而(111)晶面显示暗区。
场致电子发射的物理机制
当金属表面施加高强度电场(通常>10^7 V/cm)时,量子隧穿效应导致电子穿过表面势垒向外发射。该现象可用Fowler-Nordheim方程描述:
其中J为电流密度,E为电场强度,φ为功函数,β为场增强因子。场发射电流对曲率半径极为敏感,纳米级针尖可产生局部场增强效应。
场发射显微镜(Field Emission Microscope, FEM)是20世纪30年代由德国科学家Ernst Müller发明的一种高分辨率表面分析技术。其核心原理基于量子力学中的场致电子发射效应,能够以原子级分辨率直接观察材料表面结构。作为早期表面科学研究的重要工具,FEM为后续场离子显微镜(FIM)和扫描隧道显微镜(STM)的发展奠定了基础。本文将系统阐述场发射显微镜的工作原理、仪器结构、关键技术及其在材料科学、纳米技术等领域的应用。