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河源ZEISS场发射显微镜工作原理

来源:北京瑞科中仪科技有限公司 发布时间:2024-09-12 12:48:11

为了进行可视化并得到特征的定量信息,成像系统须具备的成像衬度。即便面对具有挑战性的材料,如低原子序数材料、软组织、聚合物、包裹在琥珀中的化石生物以及其它低衬度材料等,蔡司Xradia Versa都可以提供灵活、高衬度的成像结果。

界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。

蔡司提供两种形式的DeepRecon 技术——1) DeepRecon Pro 和2) DeepRecon Custom——两者
都利用人工智能以出色的速度提供令人惊艳的图像质量。

将蔡司原位接口套件添加到您的XRM 中,
来拓展更多的实验可能性。为了继续帮助突破科学进步的界限,蔡司Xradia Versa 已成功设计出业内的三维原位成像解决方案,适用于从高压流体驱替、拉伸、压缩装置和热台等多种多样的原位装置。

您可以为所有的蔡司Xradia Versa 仪器选配原位接口套件,包括机械集成套件、坚固的布线导槽和其它设施(馈入装置),以及基于测试规程的软件,它能够简化蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)用户界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上体验原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制,得益于其光学架构设计,在变化的环境条件下不会牺牲分辨率。

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• 用于集成多尺度关联显微技术的通用工作
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